Come utilizzare AFM a pH Mappa

microscopia a forza atomica , o AFM , è una forma di scansione ad alta risoluzione utilizzata per la scansione di campioni per determinare le loro proprietà o qualità . Il microscopio è costituito da una mensola o una punta tagliente che viene utilizzato per sondare la superficie dell'elemento di cui viene tracciata. AFM può anche essere utilizzato per determinare il livello di pH di un composto o sostanza specifica . Istruzioni
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Comprendere la premessa di base che sta dietro all'uso AFM allo scopo di rilevare il pH . Rilevare il pH è possibile attraverso altri mezzi , ma come un articolo del " Journal of Physical Chemistry " note tecniche AFM permettono di studiare le proprietà acido-base di sostanze che hanno superfici disomogenee o ruvidi . Ciò significa che la misurazione del pH utilizzando uno di questi microscopi richiede un modo per superare questi potenziali ostacoli .
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Aggiungere l'elettrolita liquido necessario alla sostanza da misurare . La misura del pH di sostanze con quello che altrimenti sarebbe un substrato incommensurabile può avvenire solo quando la sostanza è utilizzata che permetterà la AFM di rilevare con precisione eventuali modifiche di particelle che possono essersi verificati come risultato della miscela . Per esempio , un composto di Si- OH può scambiare protoni con acqua per immersione in essa e ha un effetto sul modo in cui l'AFM misura la sostanza.
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Determinare la forza esibita dal tensione superficiale della sostanza acquosa . Una volta che la soluzione ha reagito con il composto da misurare , il pH può essere determinata esaminando la forza della topografia della sostanza mappando fuori . L' AFM utilizza una piccola punta che viene a contatto con la sostanza . La punta viene lentamente trascinato lungo la superficie mentre il computer del AFM misura lo spostamento della punta attraverso l'intera misura . Ogni immagine dura circa cinque a 10 minuti per completare e viene prodotta quando la punta del microscopio fornisce un feedback agli scanner di computer , che poi registrano le misurazioni .